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Zeta電位怎么測(cè)試?有哪些方法?

 更新時(shí)間:2021-04-09  點(diǎn)擊量:8176
Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性,粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性,而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個(gè)參數(shù)?,F(xiàn)代儀器可以通過簡(jiǎn)便的手段快速地測(cè)得。

常見的測(cè)試Zeta電位方法有幾種?
 
1.電泳光散射法
常見的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法,也就是電泳光散射法,由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合,隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大,而這種方法被廣大客戶接受。
此方法的特點(diǎn)有:  
樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試;  
不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大;  
測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差,一般在±10mv以內(nèi);  
 
2.超聲電聲法
電聲法不是采用光學(xué)方法,而是采用聲波信號(hào),因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng),可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣,因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。
此方法優(yōu)勢(shì)有:  
樣品無需稀釋,原液進(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值,更加表征樣品本身狀態(tài)。  
測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mv以內(nèi)。  
可以測(cè)試微觀參數(shù),如德拜長(zhǎng)度,杜坎數(shù),雙電層的面電荷密度等。

3.流動(dòng)電位法
以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位,有很多客戶需要測(cè)試固體表面的zeta電位,中空纖維內(nèi)部的zeta電位,膜表面的zeta電位等,此時(shí)即需要流動(dòng)法來進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品,在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池,緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極,測(cè)試得到電壓值。

 4.微電泳法
微電泳法測(cè)試zeta電位,前端兩側(cè)為四個(gè)電極,進(jìn)行正向和反向加電場(chǎng),上方為ccd相機(jī),進(jìn)行對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤,得到信號(hào),從而得到每一個(gè)顆粒的遷移率,計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位,從而得到zeta電位的分布。